XU-100镀层膜厚仪

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪

产品名称：高性价比型膜厚仪

产品型号：XU-100

生产商：Elite

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm²

2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm

3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析

4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层最低检出限：0.005μm

6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

7）标配φ0.2mm准直器，最小测量面积可达0.03mm²

8）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%